-SD3 高頻實驗調(diào)節(jié)測試考試實驗箱 一、功能簡介
射頻電子實驗考核系統(tǒng)，是射頻電子作業(yè)站的系列設(shè)備。射頻電子作業(yè)站對單元電子回路及小的系統(tǒng)電子回路實行了解析。整個課程需要一個完整的實驗體系，對射頻電子回路實行一個綜合的實訓(xùn)。
射頻電子實驗考核系統(tǒng)以一個完成收發(fā)信機(jī)為電子回路參考，把收發(fā)信機(jī)的電子回路分成6個相對單獨(dú)的部分，對每一個單元電子回路實行故障設(shè)定，由學(xué)生實行排除，故障全部排除掉后，收發(fā)信機(jī)正常作業(yè)。
考核系統(tǒng)由兩大部分構(gòu)成一是學(xué)生實驗考核機(jī)，二是手持式出題機(jī)。二者之間經(jīng)過USB/串行口通信。
手持式出題機(jī)內(nèi)置出題和自動評判兩個系統(tǒng)，題庫中預(yù)設(shè)20個故障，老師可隨意結(jié)合后經(jīng)過USB口設(shè)定給學(xué)生用的實驗考核機(jī)，學(xué)生開始實驗，故障排除后老師可用手持式出題機(jī)實行自動評判，給出成果。
二、考試內(nèi)容：（）
1、小信號諧振放大器
雙調(diào)諧線路諧振放大器實驗。
靜態(tài)作業(yè)點(diǎn)偏置類故障，諧振線路失諧類故障，耦合類故障
2、高頻功率（W）放大器及調(diào)幅發(fā)射實驗
功放狀態(tài)類故障，諧振線路失諧類故障，耦合類故障，載波寫入類故障
3、LC本地振蕩器實驗
功放狀態(tài)類故障，起振條件類故障，頻率失諧類故障，寫入匹配類故障
4、中頻放大實驗
靜態(tài)作業(yè)點(diǎn)偏置類故障，耦合類故障，其它類故障
5、混頻器實驗
信號寫入類故障，作業(yè)點(diǎn)類故障，耦合類故障
6、檢波電子回路實驗
檢波失真類故障（懶性失真），切割失真類故障，耦合輸出類故障
三、電子回路板硬件
1、手持式題機(jī)
2、學(xué)生實驗考核機(jī)
控制電子回路、通信電子回路
雙調(diào)諧線路諧振放大器電子回路。
高頻功率（W）放大器及調(diào)幅發(fā)射電子回路
LC本地振蕩器電子回路
中頻放大器電子回路
混頻器電子回路
檢波電子回路
四、配備表

1	考試系統(tǒng)實驗箱	1	必配
2	考試系統(tǒng)出題機(jī)	1	必配	整個實驗室配備一臺
3	信號源	1	必配	含兩路輸出，由學(xué)校另外配備
4	三用表	1	必配	由學(xué)校另外配備
5	模仿示波器	1	必配	由學(xué)校另外配備

五、考試系統(tǒng)出題機(jī)圖

六、考試實訓(xùn)機(jī)圖